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Technische Daten


Bestimmung der Gitterkonstanten eines Einkristalls

Artikel-Nr.: P2546205

Prinzip

Polychromatische Röntgenstrahlen treffen unter verschiedenen Glanzwinkeln auf einen Einkristall, an dessen Netzebenen die Strahlen reflektiert werden. Mit Hilfe eines Energiedetektors werden in Reflexion nur die Strahlenanteile registriert, die konstruktiv miteinander interferieren. Aus den verschiedenen
Beugungsordnungen und der Energie der reflektierten Strahlen wird die Gitterkonstante des Kristalls bestimmt.

Aufgaben

  1. Die Energie der an den Netzebenen des LiF-Einkristalls reflektierten Röntgenstrahlen ist für verschiedene
    Glanzwinkel und für verschiedene Beugungsordnungen zu bestimmen.
  2. Aus den Glanzwinkeln und den zugehörigen Energiewerten ist die Gitterkonstante von LiF zu berechnen.

Lernziele

  • Brems- und charakteristische Röntgenstrahlung
  • Energieniveaus
  • Kristallstrukturen
  • Bravais-Gitter
  • reziproke Gitter
  • Millersche Indizes
  • Bragg-Streuung
  • Interferenz
  • Halbleiterdetektoren
  • Vielkanalanalysatoren

Lieferumfang

XR 4.0 expert unit Röntgengerät, 35 kV 09057-99 1
XR 4.0 X-ray Goniometer 09057-10 1
XR4 X-ray Einschub mit Kupfer-Röntgenröhre 09057-51 1
XR4 Röntgengerät Erweiterungsset Materialanalyse 09165-88 1

PHYWE Systeme GmbH & Co. KG
Robert-Bosch-Breite 10 – 37079 Göttingen – Deutschland
www.phywe.com