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Technische Daten


Untersuchung von Kristallstrukturen: Laue-Verfahren mit digitalem Röntgensensor (XRIS)

Artikel-Nr.: P2541606

Prinzip

Laue-Diagramme werden bei Durchstrahlung von Einkristallen mit polychromatischen Röntgenstrahlen erzeugt. Die Methode wird hauptsächlich zur Bestimmung von Kristallsymmetrien und zur Orientierung von Kristallen benutzt. Durchstrahlt man einen LiF-Einkristall mit polychromatischer Röntgenstrahlung erhält man ein charakteristisches Beugungsmuster. Dies wird mit dem digitalen Röntgensensor XRIS fotografiert und ausgewertet.


Aufgaben

  1. Nehmen Sie das Laue-Diagramm eines LiF-Einkristalls mit Hilfe des digitalen Röntgensensors auf.
  2. Ordnen Sie die Laue-Reflexe den verschiedenen Netzebenen des Kristalls zu.


Verwandte Themen

  • Charakteristische Röntgenstrahlung
  • Bravais-Gitter
  • Reziproke Gitter
  • Millersche-Indizes
  • Atomfaktor
  • Strukturfaktor
  • Bragg-Streuung

Software inclusive. Computer nicht Teil des Lieferumgangs.

Lieferumfang

XR 4.0 expert unit Röntgengerät, 35 kV 09057-99 1
XR4 Röntgengerät Erweiterungsset Computertomographie 09185-88 1
XR4 X-ray Einschub mit Kupfer-Röntgenröhre 09057-51 1
XR4 Röntgengerät Erweiterungsset Strukturanalyse 09145-88 1

PHYWE Systeme GmbH & Co. KG
Robert-Bosch-Breite 10 – 37079 Göttingen – Deutschland
www.phywe.com