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Technische Daten


Untersuchung kubischer Kristallstrukturen mit Röntgenstrahlen / Debye-Scherrer-Pulververfahren

Artikel-Nr.: P2541405

Prinzip

Durchstrahlt man polykristalline Proben mit Röntgenstrahlen ergibt sich ein charakteristisches Beugungsmuster. Diese Debye-Scherrer-Reflexe werden fotografiert und anschließend ausgewertet.

Aufgaben

  1. Registrieren Sie die Debye-Scherrer-Reflexe Reflexe von pulverisierten Natriumchlorid- und Cäsiumchloridproben fotografisch.
  2. Ordnen Sie die einzelnen Ringreflexe den entsprechenden Netzebenen zu.
  3. Berechnen Sie die Gitterkonstanten der Kristalle.
  4. Bestimmen Sie die Atomanzahl in der Einheitszelle.

Themenfelder

  • Charakteristische Röntgenstrahlung
  • Bravais-Gitter
  • Reziproke Gitter
  • Millersche-Indizes
  • Atomfaktor
  • Strukturfaktor
  • Bragg- Streuung

Lieferumfang

XR 4.0 expert unit Röntgengerät, 35 kV 09057-99 1
XR4 X-ray Einschub mit Kupfer-Röntgenröhre 09057-51 1
XR4 Röntgengerät Erweiterungsset Strukturanalyse 09145-88 1
Natriumchlorid, 250 g 30155-25 1

PHYWE Systeme GmbH & Co. KG
Robert-Bosch-Breite 10 – 37079 Göttingen – Deutschland
www.phywe.com