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Röntgenphysik
Alle Artikel: Röntgenphysik
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- Artikel-Nr.:09057-41XR 4.0 X-ray Direct Digital Image Sensor II (XRIS II) mit USB-KabelCHF 36’064.00
- Artikel-Nr.:P2542705Debye-Scherrer-Beugungsmessungen zur Untersuchung der Textur von WalzblechenCHF 33’276.45
- Artikel-Nr.:P2544005Röntgenfluoreszenzanalyse - Kalibrierung des RöntgenenergiedetektorsCHF 33’149.90
- Artikel-Nr.:P2544505Qualitative Röntgenfluoreszenzspektroskopie an Metallen - Moseleysches GesetzCHF 33’149.90
- Artikel-Nr.:P2542505Debye-Scherrer-Beugungsbilder mit kubischen Pulverproben (Bragg-Brentano-Geomterie)CHF 31’644.85
- Artikel-Nr.:P2542205Debye-Scherrer-Beugungsbilder von Pulverproben mit rhombenförmiger Struktur (Bragg-Brentano-Geomterie)CHF 33’138.95
- Artikel-Nr.:P2541005Charakteristische Röntgenlinien unterschiedlicher Anodenmaterialien / Moseleysches GesetzCHF 37’174.90
- Artikel-Nr.:P2542105Debye-Scherrer-Beugungsbilder (Bragg-Brentano-Geometrie) mit drei kubischen Bravais-GitternCHF 31’702.20
- Artikel-Nr.:P2541606Untersuchung von Kristallstrukturen: Laue-Verfahren mit digitalem Röntgensensor (XRIS)CHF 65’688.00
- Artikel-Nr.:P2542305Debye-Scherrer-Beugungsbilder von Pulverproben mit hexagonaler Kristallstruktur (Bragg-Brentano-Geomterie)CHF 31’673.55
- Artikel-Nr.:P2542605Beugungsmessungen zur Bestimmung der Intensität der Debye-Scherrer-Reflexe mit einer kubischen Pulverprobe (Bragg-Brentano-Geomterie)CHF 31’660.00
- Artikel-Nr.:P2541305Untersuchung der Struktur von NaCl-Einkristallen mit unterschiedlicher OrientierungCHF 31’604.30